乾曜光学第19届中国国际光电博览会圆满落幕

2018-03-26

2017年9月6日至9月9日,“第19届中国国际光电博览会”在深圳会展中心举办,亮相本届展示会的展品分别为:“激光球面干涉仪、激光平面干涉仪、干涉仪镜头”,在本次展会中乾曜光学还隆重推出了产品新星:“G300M大口径激光干涉仪、G450M大口径激光干涉仪、手机摄像孔解像力系列产品”在展会现场引起了轰动。

 
 
 
 
乾曜光学应邀出席本届展示会,并取得了圆满成功。乾曜光学总经理杨毓先生接受CCTV7特约采访。

 


展会现场参展观众热情火爆,我司展品激光干涉仪系列吸引了来自世界各地的与会嘉宾驻足体验,并受到一致好评。
 
 
本届展会乾曜光学推出的新产品大口径激光干涉仪系列、手机摄像孔解像力系列产品;
大口径激光干涉仪系列产品:两款干涉仪均采用双路测量系统,一路是100mm(4英寸)小口径测量系统,另一路是大口径平面测量系统。100mm口径系统可以进行平面元件和球面元件的测量。大口径平面测量系统从100mm口径扩束到300mm(12英寸)/450mm(18英寸),标配平面透过标准镜和平面反射标准镜,有效的满足了大口径光学元件检测的需求。
手机摄像孔解像力系列产品:
G5U-PH激光干涉仪是G10U-PH的高分辨率升级版,为3D屏及全面屏摄像孔检测而定制,可以满足更大的透过波前PV值的测量。
G10U-TW激光干涉仪针对手机面板摄像头小孔区域的平行度检测而专门设计。由于摄像头区域的透过波前及平行度对成像的解像力有直接影响,因此,该产品又可称为摄像孔解像力测试仪。
G10U-PH激光干涉仪针对手机面板摄像头小孔区域的透过波前及平行度检测而专门设计。由于摄像头区域的透过波前及平行度对成像的解像力有直接影响,因此,该产品又可称为摄像孔解像力测试仪
 
 
 
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